T2.3 – Tecniche di microscopia avanzata e nanoingegneria
G. De Bellis RM1, RM3
Caratterizzazione del processo di sterilizzazione mediante radiazione X su manufatti in pergamena, ENEA Frascati, Laboratorio di Acceleratori di Particelle per Applicazioni Medicali – FSN TECFIS APAM, Dr. Monia Vadrucci.
Caratterizzazione AFM della pergamena, Dipartimento di Ingegneria Astronautica Elettrica ed Energetica dell’Università Sapienza di Roma, Prof. Giovanni De Bellis.
Analisi microscopica con Microscopio elettronico a scansione a emissione di campo (FE-SEM), modello Zeiss Auriga, presso il laboratorio di Nanoscienze e Nanotecnologie della Sapienza (SNN-Lab).
Trattamenti di cura con radiazioni ionizzanti. Rimozione del biodegrado e caratterizzazione di pezzature di cuoio proveniente dal sito di Villa Chigi ad Ariccia. ENEA: Monia Vadrucci, FSN TECFIS APAM UniRM1: Giovanni de Bellis, Cristina Cicero, Dip. di Ingegneria Astronautica Elettrica ed Energetica Daniela Uccelletti, Emily Schifano, Dipartimento di Biologia e Biotecnologie “Charles Darwin” UniRM2: Ugo Zammit, Fulvio Mercuri, Noemi Orazi, Stefano Paoloni, Dip. di Ingegneria Industriale, Università degli Studi di Roma Tor Vergata.
Fotografia dei parati sottoposti ad indagine PIXE ed XRF per l’analisi elementale quantitativa dei pigmenti utilizzati per la decorazione del cuoio.
SAL V:
Articolo: Surface Evaluation of the Effect of X-Ray irradiation on parchment artefacts through AFM and SEM, M. Vadrucci et al., Elsevier.